Реферат: Контроль качества объектива на интерферометре ИКД-110

Санкт-ПетербургскийГосударственный Университет Информационных технологий, механики и оптики

____________________________________________________________________

Кафедра прикладной и компьютерной оптики

Лабораторная работа №5

«Контроль качества объективана интерферометре ИКД-110»

Санкт-Петербург

<st1:metricconverter ProductID=«2006 г» w:st=«on»>2006 г</st1:metricconverter>.

Цельработы:

Изучениеметода контроля волновой аберрации оптической системы типа «фотообъектив» наинтерферометре ИКД – 110.

Получениеинтерференционной картиной, возникшей между эталонным плоским волновым фронтоми волновым фронтом, дважды прошедшим через испытуемый объектив, и запись ее вкомпьютер. Программная часть комплекса ИКД-110 позволяет получить функциюдеформации волнового фронта, прошедшего через объектив, в виде коэффициентов Цернике, а также вычислить по волновой аберрации такиехарактеристики, как ЧКХ и фун-ию концентрации энергии(ФКЭ). По этим характеристикам также оценивается качество изображениеобъектива.

Порядоквыполнения работы:

Необходимонастроить схему контроля объектива, зарегистрировать и обработатьинтерферограмму, получить описание волновой аберрации объектива, ЧКХ и ФКЭ.

Чтобы настроить схемы контроляследует:

1.

в байонетную оправу на вых. окне интерферометра.Привести интерф.в режим настройки (наж. кнопку Настройка) на пульте дистанционного управления.Совместить автоколлимационное изображение от эталонной поверхности с меткой наэкране видео манитора с помощью вращения настроечныхвинтов оправы.

2.

Установить в стойку заклонасамоцентрирующуюся оправу. В эту оправу поместить пластину с плоскойповерхностью. Поместить стойку заклона на минимальном расстоянии от эталона, рабочая поверхность пластиныдолжна быть направлена к интерферометру.Небольшими перемещениями стойки заклона и вращением ее настроечных винтовдобиться появления автоколлимационного изображения от поверхности пластины,обращенной к интерферометру, на экране совместить его с автоколлимационнымизображением от эталонном поверхности (т.о торцы кулачков самоцентр.оправыустанавливаются препенд. падающ.пучку.)

3.

4.

Перемещая стойку зеркала, добитьсяпоявления на металлическом экране пятна в котором собирается отраженный отзеркала пучок. Добиться наименьшего диаметра пятна и совместить его с пятном,получаемым от объектива. После этого убрать металлический экран. Выполнитьсовмещение точнее, для чего вращением настроечных винтов стойки с зеркаломсовместить на экране видеомонитора автоколлимационное изображение отповерхности зеркала с автоколлимационным изображением от рабоч.пов-ти.

5.

наж. на пультеИзмерение). На экране видеомонитора будет изображаться интерференционнаякартина. Включить светодиод Фильтр пульта. Кнопками Увеличение пультаустановить максимальный размер интерференционной картины на видеомониторе, прикотором интерферограмма полностью помещается на экране. Пользуясь подвижкамистойки с зеркалом вывести интерференционную картину на 10-15 полос в след.последовательности:

2

интерфер.колец;

2

Длярегистрации интерферограммы:

6.

ZebraMaster.С помощью интерфейса TWAIN зарегистрировать интерферограмму, затем зарегистрироватьраспределение освещенности с использованием TWAIN-источника.

С помощьюэлементов управления, рассоложенной на окне TWAIN, установить параметры рабочей камеры – электронный затвор,который установить 1/2000 и коэффициент усиления, при этом уменьшить его. Послеотрегулировать яркость интерференционной картины так, чтобы не было засветки интерферограммы.

7.

ввести между эталонной и контролируемой поверхностями лист бумаги, некасаясь элементов контроля.

8.

Zebraс зарегистрированной интерферограммой установитькратность схемы контроля (она равна 2) и положение вершины оптического клина.

Дляобработки интерферограммы

9.

Zebraпродолжить обработку интерферограммы, нажав кнопку Next пройти все этапы интерференционнойкартины и вносить при необходимости ручные корректировки:

2

расфокусировка.

Сохранитьрезультаты.

Длявычисления ЧКХ и ФКЭ используется программа

Zebra Imager.

10.

апертур контролируемого объектива. указать длину волны лазера интерферометра,которая равна 632,8нм.

11.

В вкладке Аберрации не отмечать коэффициентысмещения, наклона и расфокусировки. Также в вкладкеМасштабирование задать масштаб – 0,5.

12.

топограмму ЧКХ контролируемого объектива и ее центральныесечения. После завершения этих процедур для получения параметров идеального (безаберрационного) объектива повторить вышеуказанный пункт.

1-

2-

3-

4-

схемы;

5-

интерференционная картинавозникает между волновым фронтом, отраженным от рабочей поверхности эталона, иволновым фронтом, прошедшим через объектив, отраженный от дополнительногоэталонного сферического зеркала и еще раз прошедшим через испытуемый объектив вобратном направлении. Т.О. кратность прохождений испытуемого волнового фронтачерез объектив равна 2.

еще рефераты

Еще работы по физике

Роль многократной ионизации в действии излучения

26 Июня 2015

Реферат по физике

Электромагнитные колебания

29 Августа 2013

Реферат по физике

Замечательное уравнение кинематики

29 Августа 2013